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            啟航精密
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            ZEISS METROTOM

            ZEISSMETROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業計算機斷層掃描測量系統。在利用傳統測量機測量時,此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。而利用蔡司的工業計算機斷層掃描系統,緊需一次X射線掃描,即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺,滿足客戶對精度的高要求。
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            產品描述
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            ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業計算機斷層掃描測量系統。在利用傳統測量機測量時,此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。而利用蔡司的工業計算機斷層掃描系統,緊需一次 X 射線掃描,即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺,滿足客戶對精度的高要求。

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